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光学膜透过率测试仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM-10S
  • 类型
  • 光学测量仪
  • 规格
  • PLM-10S
光学膜透过率测试仪企业商机

来间接的测定信号传播的时间,从而求得被测距离的。因此,信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等,虽然方法简单,但测量精度较低;第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高;第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高、功能更全。同时,各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差,即网络相移的测量。傅里叶变换解析偏振光,数据可靠稳定。吉林偏光片光学膜透过率测试仪供应商

相位常应用在科学领域,如数学、物理学等。例如:在函数y=Acos(ωx+φ)中,ωx+φ称为相位。在astrolog32中点击ALTIFT+A可以显示相位设定菜单。在交流电中,相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流,它的公式是i=Isin2πft。i是交流电流的瞬时值,I是交流电流的比较大值,f是交流电的频率,t是时间。随着时间的推移,交流电流可以从零变到比较大值,从** 大值变到零,又从零变到负的** 大值,从负的比较大值变到零。在三角函数中2πft相当于弧度,它反映了交流电任何时刻所处的状态,是在增大还是在减小,是正的还是负的等等。因此把2πft叫做相位,或者叫做相。山西AXOSCAN光学膜透过率测试仪商家相位差测试仪:KOBRA相位差测试仪。

间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。

滞后的相位值都为π的一半,或者说90°.在计算电路电流有效值时,电容电流超前90,电感落后90,可用矢量正交分解加合.加在晶体管放大器基极上的交流电压和从集电极输出的交流电压,这两者的相位差正好等于180°.这种情况叫做反相位,或者叫做反相.正弦量正交(90°)和反相(180°)都是特殊的相位差.目前,国内相位差测量仪生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题,其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术,因此国内相位测量的水平与国外水平有着相当大的差距。同时,随着**和科教等领域的发展,迫切需要高精度高性能的相位测量系统,而且在一些特殊工程领域,还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见,为缩小这些差距,对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。本文介绍的是一套较完整的高精度相位差测量仪,提高相位及频率参数的测量精度,并扩展测相系统功能,由移相网络模块、相位差测量模块及频率测量模块三大部分构成,其系统功能主要是进行相位差测量及频率和幅度测量。单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm"nn为主)。

PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差,是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量;是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备;并提供不同型号,供客户进行选配。设备主要运用于:偏光片,盖板玻璃,双折射材料,离型膜,补偿膜,其他光学材料的测试中。可解析多层相位差,主要测试项目包括:吸收轴角度,偏光轴角度,快轴,慢轴角度,波长分散性,三次元折射率,相位差R0/Rth(0~20000nm),透过率,色度,偏光度。精心打造的每一-台设备出货前都会用**计量标准片进行校验。广东离型膜光学膜透过率测试仪概念

测量波段可升级为380nm~780nm。吉林偏光片光学膜透过率测试仪供应商

性能可靠:对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精密测量;高度集成,精度高;参数指标:输入信号波形正弦/三角/梯形波/方波输入阻抗1MΩ相位范围0°to360°or±180°频率范围10Hz~99Hz幅度范围~250V分六个量程,自动选择量程测量精度相位测量精度±1°(典型值正弦波:10Hz-99Hz)相位分辨率°相位重复性±°或更好频率测量精度±频率分辨率幅度精度±幅度分辨率1mV、、环境特性工作温度0℃~+50℃相对湿度≤90%(40℃)存储温度-30℃~+70℃供电电源交流220V±10%,50Hz±5%,功率小于75W机箱尺寸3U,19″标准机箱(上机架)482mm(宽)x370(深)x150mm(高)测相位差原理分析一般测量相位差有如下两种方法:方法1::将两路同频不同相的方波信号异或后得到的脉冲宽度t与方波信号的周期T的比值(占空比),即对应为两信号的相位差,如下所示:异或测量相位差的原理方法2:通过捕获处理后的两通道的方波,就可计算出相位。吉林偏光片光学膜透过率测试仪供应商

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