北京透过率吸收轴角度测试仪

补偿膜吸收轴角度测试仪科普：吸收轴角度定义是偏光片的透过率*低的方向

相位测量技术的研究由来已久。**早的研究和应用领域是数学矢量分析、物理圆周运动和振动。随着电子技术和计算机技术的发展，相位测量技术得到了迅速的发展。目前，相位测量技术更加完善，测量方法和理论更加成熟，相位测量仪器已经实现了系列化和商品化。一种现代相位测量技术的发展可分为三个阶段：***阶段是早期的阻抗法、和差法、三电压法、对比法和平衡法。虽然方法简单，但测量精度较低，第二阶段是数字化，第三阶段是充分利用计算机和智能虚拟测量技术，使设计过程**简化，功能增强，使相应的产品更加精确和实用。同时，各种新的算法也出现了。 轴角度测量范围：0°~180°。北京透过率吸收轴角度测试仪

苏州千宇光学承诺保障，偏光片吸收轴角度测试仪的专业性；光学博士团队合力研发，追求国产替代。 精心打造的每一台设备出货前都会用**i级计量标准片进行校验 打破国外垄断 主要精度数据： 整机尺寸：根据客户样品尺寸定制； 对应样品尺寸：可定；制 轴角度测量范围：0°~180°； 数据输出：电脑连接； 轴角度精度：±0.05°（精度业内*高）； 测量重复性：0.02° （精度业内*高）； 相位差重复性精度：３σ≦０．１nm； 测量波段：550nm单波段（可根据客户要求定制波段）可升级为380nm~780nm。 慢轴吸收轴角度测试仪设备高精度轴角度相位差测量仪吸收轴角度/偏光轴角度。

PLM-100系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。

一种长的起偏振片，包括至少一个偏振薄膜，所述薄膜具有：偏振性能；和与纵向既不平行也不垂直的吸收轴，其中所述长的起偏振片在550nm下具有80%或更大的偏振度，在550ran下具有35%或更大的单片透射比，具有1m或更长的纵向长度，并且所述长的起偏振片为卷状，具有3圈或更多圈。一种长的起偏振片，包括至少一个偏振薄膜，所述薄膜具有：偏振性能；和与纵向既不平行也不垂直的吸收轴，其中所述长的起偏振片在550nm下具有80%或更大的偏振度，在550nm下具有35%或更大的单片透射比，并且与所述长的起偏振片的纵向垂直的工作宽度是650nm或更大。

概述 相位差测量仪操作简洁、使用方便、安全，由于采用电流耦合、高阻输入方式对轨道电路相位差、相邻区段极**叉进行查看，处理了相邻区段有车占用时极**叉无法查看的问题。 功用 1) 对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精细丈量。 特点 a)高度集成，精度高； b)稳定性好，功能牢靠；吸收轴角度测试仪

典型使用 1)相控雷达阵、无线电导航系统、自动控制系统的测距和定位，电力系统中相电压的相位差丈量等； 2) 适用于25Hz相敏轨道电路设备的电压、电流和频率、相位差的检测。 轴角度测量范围：0°~180° 。

PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，三次元折射率，相位差R0/Rth（0~20000nm）,透过率，色度，偏光度。整机对应样品皆可定制。金华吸收轴角度测试仪厂家直销

对应样品尺寸：可定制，数据输出：电脑连接。北京透过率吸收轴角度测试仪

偏光片光学膜透过率吸收轴角度测试仪PLM-10S

相位差测量 两个正弦电量可以是电压和电流，或者一个是电压，一个是电流等，对应点通常是从负到正的过零点，相当于正弦电函数的初始相位角。相位差的单位是度或弧度，正负号表示超前或滞后关系。一种 由于被测相位差正弦电量的频率范围很宽，所以通常根据频率选择测量方法和仪器。常用的方法有直接法和间接法。一种 直接法：用指针式相位计、数字相位计等**仪器或用负示波器测量相位差。当使用阴极示波器时，将两个相同频率的正弦电压信号分别加到示波器的X轴和Y轴上。然后两个正弦电压之间的相位差为∮=电弧正弦（B/α）。 北京透过率吸收轴角度测试仪