PLM-100系列测试仪可测试项目及定义
测试项目有:1、吸收轴角度定义:偏光片的透过率*低的方向
2、相位差R0定义:在XY方向光的行进距离会产生差异,平面方向的相位差(R0)
优势:可以测试0-20000nm的相位差范围;零残留相位差测试;高相位差测试
3、相位差Rth定义:厚度方向的相位差
4、波长分散性测试定义:在波长400nm-800nm下相位延迟量的曲线
5、慢轴、快轴角度定义:慢轴(快轴)与基准边的夹角
6、偏光度、色度、透过率(单体、平行、直交)优势:搭载高精密光谱仪,可以兼容测试偏光片的光学特性 测量波段:550nm单波段,上料方式:手动上料。贵州光学膜吸收轴角度测试仪用途
补偿膜光轴角测试仪相位介绍:相位是与电路结构有关的参数。相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流,它的公式是i=Isin2πft。i是交流电流的瞬时值,I是交流电流的比较大值,f是交流电的频率,t是时间。随着时间的推移,交流电流可以从零变到比较大值,从比较大值变到零,又从零变到负的比较大值,从负的比较大值变到零。相位(phase)是对于一个波,特定的时刻在它循环中的位置:一种它是否在波峰、波谷或它们之间的某点的标度。是描述讯号波形变化的度量,通常以度(角度)作为单位,也称作相角。当讯号波形以周期的方式变化,波形循环一周即为360°。常应用在科学领域,如数学、物理学等相位调整相位调整是指在有些**音音箱上加装的一个控制机构。用于对**音音箱所重放出的声音稍许加以延迟,从而让**音音箱的输出能够和前置主音箱同相位,即具有相同的时间关系。相位噪声相位噪声是频率域的概念,是对信号时序变化的另一种测量方式,其结果在频率域内显示。如果没有相位噪声,那么振荡器的整个功率都应集中在频率f=fo处。但相位噪声的出现将振荡器的一部分功率扩展到相邻的频率中去,产生了边带(sideband)。云南R0吸收轴角度测试仪测试误区:配向角(取向角)不是指轴角。
接下来给大家介绍一下偏光片吸收轴角度及相位差的概念:数字处理技术的发展日新月异,随着集成电路技术和软件技术的不断发展和解决复杂问题能力的不断提高,DSP技术的出现使得测量仪器集成度高,稳定性好,测量速度快,精度高,操作简捷,功能也越来越强大。目前,国内相位计生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题,其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由于技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术,因此国内相位测量的水平有着相当大的差距。同时,随着**和科教等领域的发展,迫切需要高精度高性能的相位测量系统,而且在一些特殊工程领域,还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见,为缩小这些差距,对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。
LM-10S吸收轴角度测试仪,光轴角测试仪相概念介绍
位差的丈量:两正弦电量可以同为电压、电流,或一为电压、-为电流等。对应点常取正弦电量由负到正的过零点,相当于正弦电量函数的初相角。相. 位差的单位是度或弧度,正、负号表示抢先或滞后联系。 待测相位差的正弦电量的频率规模很广,因此选用的丈量办法和仪器一般随频率的高低来挑选。常用的办法是直接法和间接法。间接法一般选用三电压表法。 -般要求两电压信号有一-公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca, 以及两电压的差值Ubc后, 可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当$很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号 的数值相等。 相位差测试仪有:日本大冢相位差测试仪。
偏光片相位差轴角度测试仪可以测试0-20000nm的相位差范围;零残留相位差测试;高相位差测试;
相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发,展可分为三个阶段:***个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等,虽方法简单,但测量精度较低,第二阶段是利用数字**电路,微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高,第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高,功能更全,同时各种新的算法也随之出现。 配置表: PLM-100系列- -套 工业电脑及软件。浙江位相差吸收轴角度测试仪特点
吸收轴角度,是指透过光线在某一方向呈现吸收状态(透光率比较低)。贵州光学膜吸收轴角度测试仪用途
PLM-100P是一款可以解析多层相位差,吸收轴角度,轴角度透过率,色度(La、b),偏光度,快轴慢轴角度单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm~nm为主)内应力的光学性能检测仪
光谱仪参数探测器类型:HAMATSU光电二极管阵列像素点:2048光栅:全息平场凹面衍射光栅狭缝:可选择狭缝宽度(25um、50um、100um、200um)光谱范围:VIS:400--800nmUV-VIS:190--800nm光学分辨率:VIS:1.5nm(100um狭缝)UV-VIS:1.5nm(100um狭缝)波长精度:±0.2nm光谱杂散光:<0.05%(400nm)信噪比:2000:1AD分辨率:16bit积分时间:0.1ms--60s供电:5V/220mA通讯接口:USB2.0(480Mbps) 贵州光学膜吸收轴角度测试仪用途