ORI测试系统是一个模块化的，多功能的测试系统用于 ***的光学系统测试，ORI测试系统支持光学模块一系列重要参数的测试：MTF（轴上，离轴）、分辨率（可见光/近红外镜头）、有效焦距、畸变、渐晕、透过率、后焦距、工作焦距、焦距深度、场曲。支持汇聚镜头与发散镜头头的测试。
ORI测试系统使用逆成像结构测试光学镜头，也就是说目标发生器模块位于被测试光学镜头的焦面处以作为一套图像投影系统，被测试的镜头生成一个畸变的图像。输出图像的质量可以在一系列不同光谱带宽的电子相机以及专业软件的辅助下进行测试评估。 这里采用的有源带通滤波器可选通某一频段内的信号，而***该频段以外的信号。扬州大尺寸高低温光电综合检测系统生产厂家
光学系统（optical system）是指由透镜、反射镜、棱镜和光阑等多种光学元件按一定次序组合成的系统。通常用来成像或做光学信息处 理。曲率中心在同一直线上的两个或两个以上折射（或反射）球面组成的光学系统称为共轴球面系统，曲率中心所在的那条直线称为光轴。 一个光学系统除了要考虑高斯光学的有关问题，诸如物像共轭位置、放大率、转像和转折光路等以外，还需考虑成像范围的大小、成像光束孔径角的大小、成像波段的宽窄以及像的清晰度和照度等一系列问题。扬州大尺寸高低温光电综合检测系统生产厂家光电检测技术是光学与电子学相结合而产生的一门新兴的检测技术。
光学测量系统的主要特点：
1、扩大低亮度的可测量范围2、可测量的比较低亮度为0.05cd/m2 ,是传统机型( CA-2000 )的2倍。3、提高耐用性4、可测量次数大幅提高,约为传统机型( CA-2000 )的5倍。5、使用XYZ滤镜传感器,敏感度可与人眼相媲美二维色彩分析仪CA-2500使用XYZ滤镜 (该滤镜具备与CIE 1931等色函数非常接近的光谱敏感度)，与数码摄像机等设备中所使用的RGB分色滤镜相比,能够测量与人眼感光度相近的亮度和色度。6、配备可适用于各种对象、用途的镜头
滤波器设计
为使电路设计简洁并具有良好的信噪比,设计时还需要用带通滤波器对信号进行处理。为保证测量的精确性，本设计在前置放大电路之后加人二阶带通滤波电路，以除去有用信号频带以外的噪声，包括环境噪声及由前置放大器引人的噪声。这里采用的有源带通滤波器可选通某一频段内的信号，而***该频段以外的信号。该滤波器的幅频特性如图5所示。图5中，f1、f2分别为上下限截止频率，f0为中心频率，其频带宽度为：B=f2-f1=f0/Q式中，Q为品质因数，Q值越大，则随着频率的变化，增益衰减越快。这是因为中心频率一定时，Q值越大，所通过的频带越窄，滤波器的选择性好。 有源滤波器是一种含有半导体三极管、集成运算放大器等有源器件的滤波电路。这种滤波器相对于无源滤波器的特点是体积小、重量轻、价格低、结构牢固、可以集成。由于运算放大器具有输人阻抗高、输出阻抗低、高的开环增益和良好的稳定性，且构成简单而且性能优良。本设计选用了去处放大器来进行设计。 暗电流的影响一般都非常明显。
一个光学系统除了要考虑高斯光学的有关问题，诸如物像共轭位置、放大率、转像和转折光路等以外，还需考虑成像范围的大小、成像光束孔径角的大小、成像波段的宽窄以及像的清晰度和照度等一系列问题。满足一系列要求的实际光学系统往往不是几个透镜的简单组合，而由一系列透镜、曲面反射镜、平面镜、反射棱镜和分划板等多种光学零件组成，并且要通过合理设置光阑、精细校正像差和恰当确定光学零件的横向尺寸等手段才能得到合乎需要的高质量系统。物方的每条直线对应像方的一条直线称共轭线；相对应的面称共轭面。安庆大尺寸高低温光电综合检测系统选型
在零偏置时则没有暗电流，这时二极管的噪声基本上是分路电阻的热噪声。扬州大尺寸高低温光电综合检测系统生产厂家
温度突变试验和温度渐变试验当试验箱（室）温度升到或降至规定的温度后，立即将样品放入试验箱进行试验，称为温度突变试验，而将样品先放入温度为室温的试验箱中，然后将箱内温度逐渐升到或降至试验所规定温度的试验，市场角高低温光学测试，称为温度渐变试验。一般来讲，若已知温度突变对试验样品不产生其他有害影响时，大塚高低温光学测试，为节省试验时间，应采用温度突变试验，否则采用温度渐变试验。
环境试验设备所出示自然环境标准的精i确性是由国家计量检定单位根据国家技术性管理机构所制订的检定规程检定合格后出示确保。因此，务必规定环境试验设备能考虑检定规程中的各类性能指标及精度指标值的规定，而且在应用時间上不超出检定周期时间所要求的期限。 扬州大尺寸高低温光电综合检测系统生产厂家
