现阶段市面上的反射率检测仪是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/相对反射率。这些通常可以适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等 高性能探测器,使得他们能够在几秒内实现重现性高的测定无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率。 反射率“标准”,不论用哪种方法测定矿物的反射率,都需与反射率已知的标准物质进行对比。淄博**反射率测试系统
反射率测试仪简介:
可见光透射率测试仪采用钨卤素灯、平行光管、积分球、光电池等测试透过玻璃前后的光通量之比。通过特制的滤光片,将钨卤素灯的光谱滤除紫外、红外成分,并将光谱修正为D65光源的相对辐射光谱,得到符合国标准GB2680-1994要求的玻璃可见光总透射率。可见光透射率测试仪在光路中增加了光学斩波器,对光源进行调制,以实现仪器在亮场下测试,拓宽了仪器的使用范围。若不做光谱修正,即为A光源,可直接3压花玻璃的透反射率,满足国家有关标准的技术要求。
淄博**反射率测试系统光电学方法是利用光电效应的原理,利用光电元件所产生的光电流与其受照光强成正比的原理来测定矿物反射率。
本实用新型公开了一种弓形法反射率测试系统,包括弓形框和天线,还包括一行走机构和天线挂架,所述天线挂架包括挂架框、天线挂架板和水平微调机构,所述行走机构通过齿轮齿条啮合安装在弓形框上并由步进电机驱动在弓形框上移动,所述挂架框安装在行走机构下方并将弓形框包裹在内,所述天线挂架板通过一悬挂臂可旋转的安装在挂架框底部,所述水平微调机构可伸缩的连接于挂架框和天线挂架板之间并可在天线挂架板上移动,所述天线通过卡扣活动安装于天线挂架板底部。本实用新型结构简单,装卸和操作都很方便,能实现不同角度斜入射的反射率测试,而且可以精确控制喇叭角度精度,并能在两个方向微调喇叭天线姿态,从而缩短测试时间,提高测试效率。
实用新型内容本实用新型的目的是为了解决现有技术中后视镜反射率测试系统所存在的缺点,提供一种能同时测量后视镜昼间模式和夜间模式的反射率,测量快捷、准确并可实现测量结果的储存、直读的后视镜反射率测试系统。为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种后视镜反射率测试系统,包括光学测量装置和智能仪表,所述的光学测量装置包括依次通过光路相互连接的标准光源、平行光管、光积分球以及光电***;所述的智能仪表包括相互连接的**处理器、控制面板以及显示屏,该**处理器通过A/D转换电路与所述的光电***相连接;所述的光积分球上设有一光线入射口,所述平行光管的出光口与所述光线入射口通过被测件表面的入射光线和反射光线所形成的光路相连通。 通过特制的滤光片,将钨卤素灯的光谱滤除紫外、红外成分,并将光谱修正为D65光源的相对辐射光谱。
镜面反射和漫反射
对于绝大多数的测量,都可以使用反射探头的方式来实现。使用QR400-7-UV-NIR反射探头,一端接光谱仪,一端接光源,探头的公共端可以通过RPH-1这个探头支架固定,方便的在样品表面测量,反射探头可以在单一方向进行照射和接受,如果是镜面反射,就使用支架的90度位置,如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。
反射率随角度变化的样品
使用积分球ISP-Ref或者ISP-R积分球来测量,由于积分球的特性,可以将样品在各个方向上的反射光收集到积分球中,匀化以后,通过光纤进入光谱仪。
光源:
可以使用覆盖可见和近红外范围的卤钨灯HL2000,或者紫外到近红外的DH-2000-BAL光源,如果您需要更便携的光源,也可以使用DE-mini光源。
反射标准:
如果是漫反射,可以使用ws-1;如果是镜面反射,可以使用STAN-SSH(高反射率)或者STAN-SSL(高反射率),更有STAN-SSH-NIST,具有NIST标准的反射率文件,可以直接调入软件测量样品的***反射率。 镜面反射和漫反射对于绝大多数的测量,都可以使用反射探头的方式来实现。淄博**反射率测试系统
漫反射(diffuse reflectance) 测量在提取样品组成和结构信息方面提供了一个直接可靠的分析手段。淄博**反射率测试系统
RTC 系列积分球配件包括四个样品架: 一个中心样品架,两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架,同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸,**厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸比较大为1.50"x 2"x 0.125”的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器,可以承装液体和粉末,用于测试吸收和散射特性。淄博**反射率测试系统