无强迫空气循环试验和有强迫空气循环试验非散热试验时，采用强迫空气循环，可提高热交换效率。空气循环速度愈高，热交换效率愈高。该设备主要温度控制仪采用智能数显温湿度控制仪，人性化设计的操作方法，易学易用，并且不同功能档次的仪表操作相互兼容。所以在进行这种强迫试验时，建议采用空气循环速度≥2m/s。而散热试验时，比较好的方法是采用无强迫空气循环试验。如果采用无强迫空气循环还不能满足试验要求时，应采用强迫空气循环试验。
为了确保试验箱对降温速度和温度的规定，本试验箱的制冷系统选用進口制冷压缩机所构成的复叠式制冷系统，该制冷系统具备配对有效、可信性高、应用维护保养便捷等优势，后制冷剂经截留阀绝热变形作功，这时候制冷剂温度减少。**终制冷剂根据空调蒸发器等温地从温度较高的物体放热，使被水冷却物体温度减少。如电动振动台检定规程中所限定的台面漏磁，加速度信噪比、带内带外加速度总均方根值比。 光学探测器，机械架构根据客户要求灵活定制。珠海大冢LCD-5100高低温光学测试系统
光学测量系统
主要特点
扩大低亮度的可测量范围
可测量的比较低亮度为0.05cd/m2 ,是传统机型( CA-2000 )的2倍。
提高耐用性
可测量次数大幅提高,约为传统机型( CA-2000 )的5倍。
使用XYZ滤镜传感器,敏感度可与人眼相媲美二维色彩分析仪CA-2500使用XYZ滤镜 (该滤镜具备与CIE 1931等色函数非常接近的光谱敏感度)，与数码摄像机等设备中所使用的RGB分色滤镜相比,能够测量与人眼感光度相近的亮度和色度。
波长(m)
光谱响应度示意图
配备可适用于各种对象、用途的镜头
南京柔性屏高低温光学测试系统光纤探头与样品在同一个腔体内，可实现比较大化视场角测量，测试项目：亮度，色度，光谱等。
OLED光学测量系统
产品概要
二维色彩分析仪CA-2500采用可媲美人眼视觉效果的XYZ滤镜及高像素CCD ,能够对智能shou机、平板电脑等各种显示屏的亮度分布、色度分布进行准确、高 分辨率的二维测量。使用的**软件充分兼顾易用性,用户通过极简单的操作,就能在短时间内完成从测量到数据分析、评估的全过程,大幅提高了测量效率,可在开发评估、检测等方面发挥重要作用。
主要用途
统一测量多个中小型液晶面板、有机EL面板的亮度、色度分布测量单个大型液晶面板、有机EL面板的亮度、色度分布测量照明范围内的亮度分布，测量各种发光体的亮度、相关色温分布，测量车用仪表的亮度分布。
对通过光学系统的光束起限制作用的光学元件。它可是光学元件（透镜、反射镜等）本身的边框，也可是另外设置的带孔不透明屏。光阑中心通常在光轴上，且与光轴垂直。 光学系统的各个光学零件都由各自的镜框限定其通光孔，绝大多数情况下是圆孔。有时还在系统中加入固定的或可变的专设光孔。在所有这些光孔中，一定有一个光孔起着限制轴上点成像光束孔径角的作用；另外有一个光孔起着限制成像范围的作用。这样的光孔称为光阑：前者称孔径光阑或有效光阑；后者称视场光阑。任何光学系统必定存在这样二个光阑。标准样品尺寸比较大390mmX310m（可接受定制），可选配PMT＋光谱仪自动切换。
结合使用一个或多个光功率计与可调激光源 (TLS)，可以支持光功率与波长关系测量。此类测量常用于确定被测器件输入功率与输出功率的比值，比值称为插入损耗，单位为 dB。当 TLS 在选中范围内调谐波长时，功率计将定时采样数量测量点的功率。通过一个触发信号与 TLS 扫描同步，这些样本能够实现与对应波长相关。
技术规格1、完整行程须在60秒内(甚至更短)2、错误判断发生率的降低(避免操作人员的重复检查)3、尽可能的减少嫁动损失(例如减少交换被检查单元的时间)4、提高模糊比对的功能5、影像分辨率不断提高6、可检测出周边线路(以往只需要检测面板内部)7、可储存面板的瑕疵影像8、自动分类瑕疵设备功能1、可输出分析表格与图形2、可检出Mura瑕疵功能3、可处理修补瑕疵功能
客户客户样品尺寸可定制高低温腔体，比较大可到1米5，温控范围-40℃~120℃。宿迁国产高长温光学测试系统
测试样品跟探测器在同一腔体内部，可形成比较大视场角测量。珠海大冢LCD-5100高低温光学测试系统
扫描波长光学测量解决方案结合使用一个或多个光功率计与可调激光源 (TLS)，可以支持光功率与波长关系测量。此类测量常用于确定被测器件输入功率与输出功率的比值，比值称为插入损耗，单位为 dB。当 TLS 在选中范围内调谐波长时，功率计将定时采样指定数量测量点的功率。通过一个触发信号与 TLS 扫描同步，这些样本能够实现与对应波长的精确相关。使用多个功率计可以同时测量多端口器件 (例如多路复用器、功率分离器和波长开关) 的输出。使用81600B、81940A 或 81980A TLS，以及功率计 (例如 816x 系列模块或多端口 N7744A 和 N7745A) 和**的 N7700A IL 软件，可以组成一个测量系统。这些“波长扫描”例程的编程过程非常简单，可以使用**的 816x 即插即用驱动程序，并应用 N4150A 光基础程序库 (PFL) 的测量功能进行增强。该测量装置在 TLS 后与 81610A 回波损耗模块连接，还可以测量光反射 (回波损耗)。珠海大冢LCD-5100高低温光学测试系统
