光谱仪参数
探测器类型: HAMATSU光电二极管阵列
像素点: 2048
光栅: 全息平场凹面衍射光栅
狭缝: 可选择狭缝宽度(25um、50um、100um、200um)
光谱范围: VIS:400--800nm
UV-VIS:190--800nm
光学分辨率: VIS:1.5nm(100um狭缝)
UV-VIS:1.5nm(100um狭缝)
波长精度: ±0.2nm
光谱杂散光: <0.05%(400nm)
信噪比: 2000:1
AD分辨率: 16bit
积分时间: 0.1ms--60s
供电: 5V/220mA
通讯接口: USB2.0(480Mbps)
解析多层相位差:相位差(0~20000nm)
吸收轴角度/偏光轴角度
透过率,色度(La、b),偏光度
快轴慢轴角度
单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm~nm为主)
内应力(此功能软件开发中) 整机对应样品皆可定制。芜湖光轴测量仪供应商
相位常应用在科学领域,如数学、物理学等。例如:在函数y=Acos(ωx+φ)中,ωx+φ称为相位。在astrolog32中点击ALTIFT+A可以显示相位设定菜单。在交流电中,相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流,它的公式是i=Isin2πft。i是交流电流的瞬时值,I是交流电流的比较大值,f是交流电的频率,t是时间。随着时间的推移,交流电流可以从零变到比较大值,从** 大值变到零,又从零变到负的** 大值,从负的比较大值变到零。在三角函数中2πft相当于弧度,它反映了交流电任何时刻所处的状态,是在增大还是在减小,是正的还是负的等等。因此把2πft叫做相位,或者叫做相。福建配向膜光轴测量仪*已通过中国计量用标准片数据匹配。
相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时,需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测,这种方法误差较大,读数不方便。为此,我们设计了一种数字相位差测量仪,实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展,很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展,这使得仪器的使用比较简单,功能越越多。
相位是关于一个波,特定的时刻在它循环中的方位:-种它是否在波峰、波谷或它们之间的某点的标度。相位描绘信号波形改动的衡量,通常以度(视点)作为单位,也称作相角。当信号波形以周期的办法改动,波形循环一周即为360°。相位常应用在科学领域,如数学、物理学等。例如:在函数y=Acos(∞x+φ)中,Wx+中称为相位。在astrolog32中点击ALTIFT+A可以显示相位设定菜单。在沟通电中,相位是反映沟通电任何时刻的情况的物理量。沟通电的大小和方向是随时刻改动的。比方正弦沟通电流,它的公式是i=Isin2Tft。i是沟通电流的瞬时值,I是沟通电流的比较大值,f是沟通电的频率,t是时刻。跟着时刻的推移,沟通电流可以从零变到比较大值,从比较大值变到零,又从零变到负的比较大值,从负的比较大值变到零。在三角函数中2Jft相当于弧度,它反映了沟通电任何时刻地点的情况,是在增大仍是在减小,是正的仍是负的等等。因而把2兀ft叫做相位,或许叫做相。测量波段:550nm单波段,上料方式:手动上料。
随着科学技术突飞猛进的发展,电子技术比较广的应用于工业、农业、交通运输、航空航天、**建设等国民经济的诸多领域中,而电子测量技术又是电子技术中进行信息检测的重要手段,在现代科学技术中占有举足轻重的作用和地位。实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展,很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展,这使得仪器的使用比较简单,功能越越多。 相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验,具有核相、测相序、验电等功能。具备很强的抗干扰性,适应各种电磁场干扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出,经过处理后直接发射出去。接收并进行相位比较,对核相后的结果定性。测量重复性精度业内比较高。杭州偏光片光轴测量仪
型号PLM-100 技术参数: 主要测试项目:偏光片吸收轴角度、偏振片偏振方向、波片快轴方向。芜湖光轴测量仪供应商
一种起偏振片的制备方法,包括:
通过一包括如下步骤的方法制备一偏振薄膜:
用夹具将一连续进料的用于偏振薄膜的聚合物薄膜的两个边夹 住;和
将所述聚合物薄膜延伸,同时所述夹具运行至该薄膜的纵向并向 该薄膜施加张力,
其中,当L1**夹具从聚合物薄膜一个边缘的实际夹住起点直 到实际夹住释放点的轨迹,L2**夹具从聚合物薄膜的另一边缘的 实际夹住起点直到实际夹住释放点的轨迹,并且W**所述两个实 际夹住释放点之间的距离,LI、L2和W满足式(2):
|L2-L1| >0.4W 的关系,
将所述聚合物薄膜延伸,同时保持该聚合物薄膜的支持性能并使 挥发性成分的含量为5%或更大,然后将所述聚合物薄膜收缩,同时 降低该挥发性成分的含量,然后将该聚合物薄膜卷成卷状;
将一保护薄膜附着于所述偏振薄膜的至少一个表面上,并且由所 述保护薄膜的相位滞后轴与所述偏振薄膜的吸收轴构成的角度不小 于10。并小于90。 芜湖光轴测量仪供应商