瞬时功率测量使用多端口光功率计进行瞬时功率测量：通过测量光功率电平变化以确定光纤切换时间，从而观察光纤移动或网络重新配置所带来的瞬时波动，这已经超出了大多数光功率计的设计功能。这些传统光功率计通常*用于对光功率电平 (常数或与其他仪器同步变化) 进行校准测量。传统仪表的典型采样率 (约 10 kHz)、数据容量 (约 100,000 个样本) 以及到控制器的数据传输速度往往不足以支持此类时间相关应用。另外一些方法，例如结合了示波器的快速光电转换器，已经在实际中得到应用，并在部分标准中得以采用。然而，这些方法往往以光功率校准为代价，需要额外的整合，并且对示波器带宽提出了额外的要求。高低温光学探测器，机械架构根据客户要求灵活定制，视场角测量比较大可以到80°以上。长沙显示屏高低温光学测试系统
扫描波长光学测量解决方案结合使用一个或多个光功率计与可调激光源 (TLS)，可以支持光功率与波长关系测量。此类测量常用于确定被测器件输入功率与输出功率的比值，比值称为插入损耗，单位为 dB。当 TLS 在选中范围内调谐波长时，功率计将定时采样指定数量测量点的功率。通过一个触发信号与 TLS 扫描同步，这些样本能够实现与对应波长的精确相关。使用多个功率计可以同时测量多端口器件 (例如多路复用器、功率分离器和波长开关) 的输出。使用81600B、81940A 或 81980A TLS，以及功率计 (例如 816x 系列模块或多端口 N7744A 和 N7745A) 和**的 N7700A IL 软件，可以组成一个测量系统。这些“波长扫描”例程的编程过程非常简单，可以使用**的 816x 即插即用驱动程序，并应用 N4150A 光基础程序库 (PFL) 的测量功能进行增强。该测量装置在 TLS 后与 81610A 回波损耗模块连接，还可以测量光反射 (回波损耗)。沈阳DMS高低温光学测试系统温度范围：-40℃~120℃。
光学测量系统
主要特点
扩大低亮度的可测量范围
可测量的比较低亮度为0.05cd/m2 ,是传统机型( CA-2000 )的2倍。
提高耐用性
可测量次数大幅提高,约为传统机型( CA-2000 )的5倍。
使用XYZ滤镜传感器,敏感度可与人眼相媲美二维色彩分析仪CA-2500使用XYZ滤镜 (该滤镜具备与CIE 1931等色函数非常接近的光谱敏感度)，与数码摄像机等设备中所使用的RGB分色滤镜相比,能够测量与人眼感光度相近的亮度和色度。
波长(m)
光谱响应度示意图
配备可适用于各种对象、用途的镜头
ORI测试系统由一组CRI离轴反射式平行光管、一组TG目标发生器、一组CGT控制器、一组机械适配器、AEH光学台、MP机械调整台、一组光谱滤波片、一组光衰减器、一组靶标、一组IM电子相机（版本配置适用于不同的光谱带宽）、计算机、图像采集卡、TAS-O软件、以及可选的一组参考镜头组成。一组离轴反射式平行光管用于不同口径及焦距光学镜头的精确测试，一组电子相机用于测试工作在不同光谱带宽的镜头。ORI测试系统是一套多功能的测试系统，支持所有类型的工作在紫外到长波红外波段的光学镜头（紫外镜头，可见光镜头，可见光/近红外镜头，短波红外镜头，中波红外镜头以及长波红外镜头）。多功能的实现由设计一系列的模块而实现（相机，一组靶标，目标发生器等），适用于不同光谱范围的镜头测试。通过模块的更换，ORI测试系统可以简单的实现由可见光镜头测试转换为红外镜头的测试。定制进口**高低温腔体，尺寸比较大可到1米5。
理想光学系统是能产生清晰的、与物完全相似的像的成像系统。光束中各条光线或其延长线均交于同一点的光束称为同心光束。入射的同心光束经理想光学系统后，出射光束必定也是同心光束。入射和出射同心光束的交点分别称为物点和像点。理想光学系统具有下述性质：①交于物点的所有光线经光学系统后，出射光线均交于像点。反之亦然。这一对物像可互换的点称为共轭点。②物方的每条直线对应像方的一条直线称共轭线；相对应的面称共轭面。③任何垂直于光轴的平面，其共轭面仍与光轴垂直。视场角测量比较大可以到80°以上，可实现多片自动切换连续测量。四川DMS高低温光学测试系统
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ORI测试系统是一个模块化的，多功能的测试系统用于 ***的光学系统测试，ORI测试系统支持光学模块一系列重要参数的测试：MTF（轴上，离轴）、分辨率（可见光/近红外镜头）、有效焦距、畸变、渐晕、透过率、后焦距、工作焦距、焦距深度、场曲。支持汇聚镜头与发散镜头头的测试。
ORI测试系统使用逆成像结构测试光学镜头，也就是说目标发生器模块位于被测试光学镜头的焦面处以作为一套图像投影系统，被测试的镜头生成一个畸变的图像。输出图像的质量可以在一系列不同光谱带宽的电子相机以及专业软件的辅助下进行测试评估。 长沙显示屏高低温光学测试系统
