离线X检测设备报价

X-ray检测设备可有效进行电力行业无损检测，半导体封装是将集成电路组装到芯片后面产品中的过程。简而言之，就是将工厂生产的集成电路管芯放在起支撑作用的基板上，把管脚引出来，然后将封装固定成一个整体。用导线将硅芯片上的电路管脚接引到外部接头，方便其他器件连接。封装形式是指安装半导体集成电路芯片用的外壳。它不只起到安装，固定，密封，保护芯片和增强电热性能的作用，而且还通过芯片上的接点连接到封装外壳的引脚上，这些引脚又通过印刷电路板上的导线与其他器件相连接，从而实现内部芯片与外部电路的连接。X-ray检测设备是基于X射线的影像原理，由x射线发生装置发出X射线。离线X检测设备报价

以半导体芯片封装为例，CSP的种类日益繁多，有柔性封装、刚性基板、引线框架、栅阵引线型及细微模塑形CSP等等。不一样的CSP构造其技木工艺也各有不同，但其基本都是根据倒装焊（FCB）和球栅阵列（BGA）两项技术。倒装焊技木主要有焊球凸点法、热压焊法和导电胶粘接法三种电气连接方式，不管哪一种方式，凸点的连接在封装流程里都不是肉眼能看得见的。再者，在封装流程中，焊盘长时间暴露在空气中非常容易造成氧化，进而全部的连接点都很有可能存在包括连接焊点裂缝、没有连接上、过多焊点空洞、导线和导线压焊缺陷及裸片和连接界面缺陷等等问题。海南X-ray半导体缺陷检测仪X射线起到了返修台的作用。

焊盘硅片在封装流程中还会因压力造成细微裂纹，导电胶连接的胶体还可能会在封装流程中造成气泡。这类问题都会对集成电路的封装品质造成不良影响。而通常这类表层不看得见缺陷都不能用AOI技术来分辨，并且传统意义的电气功能性测试既要求对所测试目标的功能有很清晰的认识，也要求测试技术人员具备很高的专业技能，再者电气功能测试设备复杂，测试成本高，测试的成效还取决于测试工作人员技术实力，这就给集成电路的封装测试带来了新的困难。因此，为了能高效地解决2D和3D封装等流程出现的内部缺陷检测难题，出现了将x-ray无损检测技术应用于半导体封测流程，与前述的几种测试方法对比具备更多的优势，它为给予了提升“一次通过率”和取得“零缺陷”的总体目标更高效的检查方式。

目前，市场上出现X-RAY点料机，采用X光穿透样品并对样品的数量进行分析与统计，无需拆解，只需要将料盘置入待检测区，X光通过成像焦点计算产品的数量并可以储存图像，能有效的解决结构复杂、点料效率低等问题，而且点数精度高。选购一台好的x光机，除了设备自身的“硬件”之外，还要关注所属厂家是否有好的的售后服务。一台x光机的寿命一般是6-8年，在使用期间，只有X光机厂家确实能给机器上一把长期的“安全锁”，遇到紧急情况能够快速反应，才能保证机器按正常轨道运转，才能让企业主真正放心，避免出现机器卖出2、3年后就无人管的局面。而能够提供好的售后的厂家必定是拥有自主研发能力的厂家。半导体封测是指根据产品型号和功能要求处理被测试晶圆以获得单独芯片的过程。

由于对高密度表面组装器件需求的不断增加，球栅阵列封装（Ball Grid Array, BGA）技术已经普遍应用于印刷电路板（Printed Circuit Board , PCB）的生产当中。在BGA封装过程中，不可避免地出现各种各样的缺陷，气泡缺陷便是其中一种。由于BGA焊点隐藏在芯片的底部，所以无法通过直接观察的方式来检测焊点。即使在生产的后阶段顺利通过功能测试，也不意味着没有缺陷，很多缺陷无法从功能的角度去发现。因此，工业生产中，通常利用焊点钎料与PCB基板材料对X射线吸收作用明显差异的特性，应用X射线成像技术对这类封装器件的焊点缺陷进行检测。现有技术中，检测X射线BGA图像的气泡缺陷包含诸多步骤，如对采集来的BGA图像进行增强、降噪、分割、特征提取与识别等。X射线无损检测设备可以跟厂家的生产线对接，采用全自动上下料机械手，减少人力成本。山西无损检测

X-ray检测设备可有效进行电力行业无损检测。离线X检测设备报价

大家肯定知道X-ray检测设备应用在电子元器件、电子产品上，但是可能会奇怪，X-ray检测设备怎么会在LED，半导体行业中有应用呢？其实X-ray检测设备在这个行业应用还是很广的，因为无损检测是在不损坏工件或原材料的前提下，对被检验部件的表面和内部质量进行检测的一种检测手段。生产的X-ray检测设备能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作，开展从底层芯片到实际产品的全方面检测。X-ray检测设备能够比较直观的显示工件内部缺陷的大小和开关，易于判定缺陷性质，射线底片可作为检测的原始记录，供多方研究并作长期保存。可以检测气孔、夹渣、缩孔、疏松等缺陷。离线X检测设备报价

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